KUMAR, S., S. K. SONI a P. JAIN. Micro-Diversity Analysis of Error Probability and Channel Capacity over Hoyt-Gamma Fading. Radioengineering [online]. Společnost pro radioelektronické inženýrství, 2017, 26(4), 1096-1103 [cit. 2021-9-23]. ISSN 1210-2512. Dostupné z: doi:10.13164/re.2017.1096
Uložit do Citace PRO