Obálka

Reliability and radiation effects in compound semiconductors

Johnston Allan
Kniha
Citace v seznamu literatury:
JOHNSTON, Allan. Reliability and radiation effects in compound semiconductors. Singapore: World Scientific, c2010. ISBN 9781615836871. Dostupné také z: https://proxy.k.utb.cz/login?url=http://app.knovel.com/web/toc.v/cid:kpRRECS002.
Jméno:Příjmení:Role:
  Přidat autora
Vyplňte povinné pole

skrýt nepovinné údaje zobrazit další údaje