Obálka

RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors

Gao Jianjun
Kniha
Citace v seznamu literatury:
GAO, Jianjun. RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors. Raleigh, NC: SciTech Pub., c2010. ISBN 9781613442869. Dostupné také z: https://proxy.k.utb.cz/login?url=http://app.knovel.com/web/toc.v/cid:kpRFMMMTCH.
Jméno:Příjmení:Role:
  Přidat autora
Vyplňte povinné pole

skrýt nepovinné údaje zobrazit další údaje