Obálka

Logic testing and design for testability

Fujiwara Hideo
Kniha
Citace v seznamu literatury:
FUJIWARA, Hideo. Logic testing and design for testability. MIT Press series in computer systems. Cambridge, Mass.: MIT Press, c1985. ISBN 9780262256186. Dostupné také z: https://proxy.k.utb.cz/login?url=http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264.
Jméno:Příjmení:Role:
  Přidat autora
Vyplňte povinné pole

skrýt nepovinné údaje zobrazit další údaje