Obálka

Characterization in silicon processing

Strausser Yale

Kniha

Citace v seznamu literatury:

STRAUSSER, Yale. Characterization in silicon processing. Materials characterization series. Boston: Butterworth-Heinemann, ©1993. ISBN 9781591245254. Dostupné také z: https://proxy.k.utb.cz/login?url=http://app.knovel.com/hotlink/toc/id:kpCSP00001/characterization_in_silicon_processing.

skrýt nepovinné údaje zobrazit další údaje

ISBN*:

Jiný identifikátor:

Autoři:

Jméno:	Příjmení:	Role:

Korporace:

Název*:

Podnázev:

Svazek:

Vydání*:

Vyplňte povinné pole

Sekundární odpovědnost:

Místo vydání:

Nakladatelství*:

Rok vydání*:

Počet stran:

Edice:

Subedice:

Číslo edice:

Jazyk:

Poznámka:

skrýt nepovinné údaje zobrazit další údaje

Zkontrolovat citaci Uložit